| DS1135 |
免費樣品 |
採購 |
| 封裝: |
類型 引腳 占位面積 |
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封裝圖編碼/變更 * |
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溫度 |
RoHS/無鉛?
材料分析 |
| DS1135M-6 |
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PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-8 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-10 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-12 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-15 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-20 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135M-25 |
|
|
PDIP(N);8引腳;80mm²
封裝圖: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封裝碼/變更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-6+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-10+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-15+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-20+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-20/T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-25+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-25/T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-30+T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-30/T&R |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-6+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-15+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-30+W |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-6 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-8 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-10 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-12 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-15 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-20 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-25 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-30 |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135Z-12+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-8+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-10+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-20+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-25+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135Z-30+ |
|
|
SOIC(N);8引腳;31mm²
封裝圖: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封裝碼/變更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:無鉛
材料分析 |
| DS1135U-10/T&R |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-12/T&R |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-15/T&R |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-20/T&R |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-6 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-8 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-10 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-12 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-15 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-20 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-25 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-30 |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/無鉛:否
材料分析 |
| DS1135U-8+T&R |
|
|
µMAX;8引腳;16mm²
封裝圖: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封裝碼/變更:U8+1*
|
-40°C至+85°C |
參考數據資料
材料分析 |