| DS1135 |
免费样品 |
采购 |
| 封装: |
类型 引脚 占位面积 |
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封装图编码/变更 * |
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温度 |
RoHS/无铅?
材料分析 |
| DS1135M-6 |
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PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-8 |
|
|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-10 |
|
|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-12 |
|
|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-15 |
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|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-20 |
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|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135M-25 |
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|
PDIP(N);8引脚;80mm²
封装图: 21-0043 (PDF)
Land Pattern: Not Applicable
使用封装码/变更:P8-7*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-6+T&R |
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SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-10+T&R |
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|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-15+T&R |
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|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-20+T&R |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-20/T&R |
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SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-25+T&R |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-25/T&R |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-30+T&R |
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|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-30/T&R |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-6+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-15+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-30+W |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-6 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-8 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-10 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-12 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-15 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-20 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-25 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-30 |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8-4*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135Z-12+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-8+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-10+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-20+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-25+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135Z-30+ |
|
|
SOIC(N);8引脚;31mm²
封装图: 21-0041 (PDF)
Land Pattern: 90-0096 (PDF)
使用封装码/变更:S8+2*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:无铅
材料分析 |
| DS1135U-10/T&R |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-12/T&R |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-15/T&R |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-20/T&R |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-6 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-8 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-10 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-12 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-15 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-20 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-25 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-30 |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8-1*
|
-40°C至+85°C |
RoHS/无铅:否
材料分析 |
| DS1135U-8+T&R |
|
|
µMAX;8引脚;16mm²
封装图: 21-0036 (PDF)
Land Pattern: 90-0092 (PDF)
使用封装码/变更:U8+1*
|
-40°C至+85°C |
参考数据资料
材料分析 |